平行平晶檢定規(guī)程

　　平行平晶檢定規(guī)程是確保平行平晶測量準確性和可靠性的重要依據(jù)。以下是根據(jù)相關(guān)參考文章整理的平行平晶檢定規(guī)程的主要內(nèi)容：

　　一、范圍

　　本規(guī)程適用于平面平晶、平行平晶和長平晶（以下統(tǒng)稱平晶）的定型鑒定、首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。

　　二、引用文件

　　規(guī)程可能引用一系列相關(guān)標準和技術(shù)文件，如《平面平晶》（JB/T7401-1994）、《平行平晶》（JB/T7402-1994）、《通用計量術(shù)語及定義》（JJF1001）、《測量不確定度評定與表示》（JJF1059）等。使用本規(guī)程時，應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本。

　　三、概述

　　平行平晶是以光波干涉法測量平面的平面度、直線度、研合性以及平行度的計量器具。其外形可分為多個系列，每個系列中尺寸相鄰的四塊可組成一套。

　　四、計量性能要求

　　平行度：

　　平行平晶兩工作面的平行度需滿足特定要求，具體數(shù)值可能因系列和等級不同而有所差異。

　　工作面平面度：

　　平面平晶工作面的平面度在不同直徑范圍內(nèi)有不同要求，如一等標準平晶在有效直徑內(nèi)的平面度不大于0.03μm，任意兩相互垂直截面方向的平面度之差不大于0.015μm等。

　　平行平晶工作面的平面度不大于0.1μm（在有效直徑外允許塌邊），中間2/3直徑范圍內(nèi)的平面度不大于0.05μm。

　　非工作面的平面度：

　　平面平晶非工作面的平面度通常有一定限制，如不超過3.0μm。

　　穩(wěn)定性：

　　對于標準平晶和長平晶，兩次周期檢定的平面度之差需滿足特定要求，以確保其穩(wěn)定性。

　　五、通用技術(shù)要求

　　外觀及表面質(zhì)量：

　　平晶表面應無破損，玻璃材質(zhì)應透明，無明顯的氣泡和條紋。

　　使用中的平晶工作面允許有不影響準確度和不損傷被測量具工作面的劃痕和破損。

　　外形尺寸：

　　平晶的外形尺寸需符合特定規(guī)定，如平面平晶、平行平晶和長平晶的外形尺寸各有不同的要求。

　　長平晶十字刻線位置：

　　長平晶的非工作面上有表示受檢點位置的十字刻線，其位置和間隔需滿足特定要求。

　　兩端面夾角：

　　平面平晶和長平晶的工作面與其對應面的夾角需滿足特定要求，以確保測量的準確性。

　　工作面與圓柱母線的垂直度：

　　平行平晶工作面與圓柱母線的垂直度需小于一定角度，如小于1°。

　　六、計量器具控制

　　計量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中的檢查。檢定前需將平晶放置在特定溫度和濕度的檢定室內(nèi)進行等溫處理，等溫時間需滿足特定要求。檢定過程中需使用特定設(shè)備和方法進行檢測，并對檢定結(jié)果進行處理和記錄。

　　七、檢定周期

　　平晶的檢定周期可能根據(jù)具體情況而定，需按照相關(guān)規(guī)定進行定期檢定以確保其測量準確性和可靠性。

　　請注意，以上內(nèi)容僅為平行平晶檢定規(guī)程的概述，具體規(guī)程可能因版本和地區(qū)不同而有所差異。在實際應用中，應參考最新版本的檢定規(guī)程進行操作。